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ZR600-7-NIR-P 反射探頭
KEWLAB 反射探頭適用于VIS-NIR（400-2200 nm）波長范圍，有各種波長范圍、光纖芯徑、包層材料及長度等可供選擇。
￥?6,500.00
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ZR03
反射探頭主要用于光譜分析領(lǐng)域，它具有堅實耐用、穩(wěn)定性高、插入損耗低和反射損耗低等特性。光源的信號光由光纖一端傳導至待測物體，然后作用光經(jīng)反射探測后將其傳輸至光譜分析儀器。
我們有各種波長范圍、光纖芯徑、包層材料及長度等可供選擇，以滿足高校、科研機構(gòu)及工業(yè)企業(yè)對傳導光纖的各種應用需求。
另外，針對實際應用需求，我們能夠為客戶提供各種標準的定制反射探頭。
特點：
- 光譜范圍：190～2200nm
- 光纖芯徑：200～600μm
- 包層材料：金屬/塑料
- 標準長度：0.5m、1m、2m，其它長度可定制
| 波長范圍 | 400～2200 nm |
|---|---|
| 光纖芯徑 | 600 μm |
| 長度 | 2 m |
| 包層材質(zhì) | 塑料 |
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